大功率測試IGBT系統(tǒng)

在..性的能源短缺和環(huán)境惡化問題日益嚴重的..，以IGBT為代表的功率半導體器件以優(yōu)良的性能廣泛應用于航空航天、交通運輸、綠色照明、智能家電、交流電機等領域。在IGBT不斷向高頻、高溫、高壓、大功率方向發(fā)展的同時，IGBT的開關損耗嚴重制約了其開關頻率的提高，較大的電壓變化率和電流變化率所引起的電壓和電流過沖會使IGBT應用電路的可靠性下降，同時也會帶來大量的電磁污染。因此，正確選擇IGBT模塊并對其工作環(huán)境進行合理的設計可以大大..如電氣寄生參數(shù)治理、熱分布管理以及EMI等工作量，不僅能提高產(chǎn)品的可靠性，同時也可以縮短產(chǎn)品的研發(fā)周期。

半導體廠商所提供的器件數(shù)據(jù)手冊對設計者有一定的參考價值，但是由于其測試數(shù)據(jù)本身的不可重復性，使得特定工作環(huán)境（環(huán)路寄生參數(shù)、驅(qū)動條件、環(huán)境溫度等）下的IGBT器件的工作狀態(tài)難以準確的預測，從而導致器件的實際應用效果與設計之間存在偏差，進而影響整個變換器系統(tǒng)的性能。通過合理的IGBT測試技術，可以得到電路參數(shù)對器件特性的影響，如封裝和電路的寄生參數(shù)、工作電壓、電流、柵極驅(qū)動、溫度等，進而獲取能夠充分反映模塊特性的數(shù)據(jù)并用于IGBT行為模型的建立?；诖罅繙y試數(shù)據(jù)建立起來的行為模型能夠較為準確地進行開關損耗、電氣應力等方面的預測，對提高變流器效率、指導電力電子裝置的熱設計、對整體裝置進行壽命預測以及考量工作環(huán)境適應性等具有重要的意義。所以IGBT特性測試成為電力電子領域的一個研究熱點。

大功率IGBT測試平臺能對IGBT進行雙脈沖測試、浪涌電流測試、短路測試（包括三類短路試驗）、短路失效測試，能對IGBT的反并聯(lián)二極管進行10ms、20ms等脈寬的半正弦浪涌電流測試等。

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